製品情報 / ソフトウェア / VC Solar Solution
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試験済みスタンド=アローン=システム(検査タスク用):
  • はんだ付けリボンの検査
  • レーザーエッジアイソレーション
  • エレクトロルミネセンスによる検査
  • 破損エッジの検出
  • 厳密な位置調整
  • 二次元バーコード読み取り
  • 表面検査
  • 印刷検査
VCソラーソルーション及び VC4067/NIR 近赤外線スマートカメラに関するPDF 資料ダウンロード:

VC4067NIR_EL_E_Euro.pdf

VC_Solar_Solution_DE_EN.pdf

VCソーラーソリューション

VCスマートカメラによる太陽電池(ソーラーセル)検査

Wafer Handling, Robot-Guidance Solution

VCソーラーソリューションは、全ての品質要求を満たした、コスト効率の高いソーラーセル製造への最適なソルーションを提供します。 VCスマートカメラは簡単に統合可能であるため、それぞれの生産段階における様々な検査課題に応じた使用が可能であります。

スマートカメラは、リアルタイムで検査を行い、ラインスキャンカメラ及びエリアスキャンカメラとして活用することができます。エレクトロルミネセンス方式検査のために特別に開発された、近赤外線カメラ VC4067/NIRや、個別に開発されるカスタマイズスマートカメラも提供しております。

我々は、お客様の個別のご要望にお答えするよう、 VCソーラーソリューションを提供しております。ソーラーセル製造における検査タスクに関しまして、最適なハードウェアおよびソフトウェアソルーションをご用意しております。

 

標準コンポーネントによるウェハハンドリング

Robot-Guidance-Solution for Wafer Handling

VCソーラーソリューションには、本格的なロボット誘導ソリューションが備わっております。ウェハを2µm以下の正確さで位置付けることができます。その際、ローテーションは1/1000度の正確さで算出されます。ウェハの正確な探知は周辺の困難な条件下においても保証されています。例えば、検査対象の端がロボットのアームにより隠れていても正確な読み取りが可能です。このようにして、発展的な加工作業のために、的確にウェハを位置づけることができます。

Elektrolumineszenz Verfahren

Polykristalliner Wafer mit Haarriss

VC4067/NIRは、エレクトロルミネセンス(EL)方式による検査を目的に、特別に開発された近赤外線カメラです。このカメラは、ミクロ割れ、分岐流や電気経路等の破損を確実に検知することが可能です。 VC4067/NIR近赤外線カメラは、同等の品質を備えた他のカメラシステムに比べ、格段にお求めやすくなっております。VC4067/NIR近赤外線カメラに関する詳しい情報は、こちらおよび右枠にある PDF ダウンロード資料をご参照ください。

破損エッジ検査

Kantenbruchkontrolle

VCソーラーソリューションは、破損したエッジを100%検出することができます。1/10mm以下の欠損部分ですら、確実に発見することが可能です。このようにして、次の加工段階へと進む前に、損傷したウェハを確実に取り除くことができるため、後の損害コストを削減することができます。高性能なシステム能力により、100ms以下の検出時間が保証されております。