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Praxiserprobte Stand-Alone-Systeme für alle Prüfaufgaben:
  • Lötbandkontrolle
  • Laserkanteninsolation
  • Elektrolumineszenz Inspektion
  • Kantenbruchkontrolle
  • Hochgenaues Positionieren
  • 2D-Code lesen
  • Oberflächeninspektion
  • Bedruckungskontrolle
PDF Downloads für VC Solar Solution und VC4067/NIR Smart Kamera:

VC4067NIR_EL_E_Euro.pdf

VC_Solar_Solution_DE_EN.pdf

VC Solar Solution

Mit VC Smart Kameras Solarzellen prüfen

Wafer Handling, Robot-Guidance Solution

Die VC Solar Solution ist die optimale Lösung zur kosteneffizienten Solarzellen-Produktion, die alle Qualitätsanforderungen erfüllt. Die VC Smart Kameras sind als Stand-Alone-System einfach zu integrieren und können für die verschiedenen optischen Prüfaufgaben der einzelnen Produktionsschritte eingesetzt werden. 

Die Smart Kameras prüfen in Echtzeit und stehen als Zeilen- oder Flächenkameras zur Verfügung. Auch die Nahinfrarot-Kamera VC4067/NIR, speziell zur Inspektion im Elektrolumineszenz-Verfahren entwickelt, oder individuell entwickelte Spezialkameras stehen zur Verfügung. 

Die VC Solar Solution ist optimal auf den Bedarf unserer Kunden zugeschnitten und stellt dem Anwender für alle Prüfaufgaben in der Solarzellen-Produktion die ideale Lösung, hard- und softwareseitig, zur Verfügung.

Wafer Handling mit Standardkomponenten

Die VC Solar Solution verfügt über eine vollwertige Robot-Guidance-Lösung. Die Wafer können mit einer Genauigkeit von weniger als 2 µm positioniert werden. Die Drehlage kann dabei auf 1/1000 Grad genau ermittelt werden. Die sichere Detektion der Wafer kann auch unter schwierigen Umgebungsbedingungen garantiert werden, z.B. wenn die Kante des Prüfteils durch den Roboterarm verdeckt ist. Somit können die Wafer für die Weiterverarbeitung optimal platziert werden.

Elektrolumineszenz Verfahren

Polykristalliner Wafer mit Haarriss

Die VC4067/NIR Nahinfrarot Smart Kamera wurde speziell für die Inspektion mittels EL-Verfahren entwickelt. Die Kamera detektiert Mikrorisse, Shunts und unterbrochene Leiterbahnen zuverlässig. Die VC4067/NIR stellt bei vergleichbarer Leistungsfähigkeit eine äußerst kostengünstige Alternative zu anderen Kamerasystemen dar. Mehr Infos zur VC4067/NIR Smart Kamera finden Sie hier oder als PDF zum Download in der rechten Spalte.

Kantenbruchkontrolle

Wafer edge break detection

Die VC Solar Solution garantiert eine 100 %-Kantenbruchkontrolle, die sogar Defekte, die kleiner als 1/10 mm sind, sicher detektiert. Beschädigte Wafer können so direkt ausgeschleust werden, bevor im nächsten Prozessschritt weiterverarbeitet werden und Folgekosten verursachen. Dank der hohen Leistungsfähigkeit des Systems bleibt die Auswertezeit bei unter 100 ms gewährleistet.

 

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